HAST試驗(yàn)箱，全稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱，主要用于測(cè)試IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料等產(chǎn)品的密封性能和老化性能。它屬于非飽和型試驗(yàn)箱，具有可調(diào)節(jié)的溫度和濕度范圍，能夠進(jìn)行高溫高濕、高低溫循環(huán)、雙85、雙95、高溫高濕高壓等測(cè)試，因此也被稱為全能型老化測(cè)試設(shè)備。
高低溫濕熱試驗(yàn)箱則主要用于測(cè)試材料在高溫、低溫以及濕熱環(huán)境下的性能表現(xiàn)。它可以進(jìn)行高溫和低溫測(cè)試，同時(shí)也可以進(jìn)行濕度控制，實(shí)現(xiàn)溫度和濕度的循環(huán)變化。這種試驗(yàn)箱一般能做到的溫度范圍是-20℃到150℃，濕度范圍20%到98%RH，有的甚至可以做到更低的濕度條件。
具體來(lái)說(shuō)，HAST試驗(yàn)箱與高低溫濕熱試驗(yàn)箱的區(qū)別主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：
1.測(cè)試目的：HAST試驗(yàn)箱主要關(guān)注產(chǎn)品的密封性能和老化性能，而高低溫濕熱試驗(yàn)箱則側(cè)重于材料在極端環(huán)境下的性能表現(xiàn)。
2.功能特點(diǎn)：HAST試驗(yàn)箱屬于非飽和型，溫度和濕度可調(diào)，適合進(jìn)行多種環(huán)境模擬測(cè)試。高低溫濕熱試驗(yàn)箱則更專注于高低溫與濕度的循環(huán)變化測(cè)試。
3.應(yīng)用領(lǐng)域：HAST試驗(yàn)箱適用于電子元器件、IC封裝等產(chǎn)品的可靠性測(cè)試。高低溫濕熱試驗(yàn)箱則廣泛應(yīng)用于電子、元器件、電路板、通訊、LED等行業(yè)，用于檢驗(yàn)產(chǎn)品在這些行業(yè)中的環(huán)境適應(yīng)性。
可以說(shuō)HAST試驗(yàn)箱與高低溫濕熱試驗(yàn)箱雖然都用于測(cè)試材料的性能，但它們的測(cè)試目的、功能特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域有所不同，選擇使用哪種試驗(yàn)箱取決于具體的測(cè)試需求。
